使用R&S® Spectrum Rider FPH和R&S® HZ-15近场探头分析近场信号，减少电路板和模块上的电磁干扰（EMI）。
你的任务
屏蔽不良导致的EMI辐射和串扰会导致电子射频设备的信号质量和性能下降，为了将电子设备的整体EMI降至最低，必须充分了解集成电路板和模块上的局部辐射源，为确定电磁干扰是否符合适用的EMC标准，射频设计师进行模块级近场测量以便能够在早期采取纠正措施。
解决方案
R&S® Spectrum Rider FPH手持式频谱分析仪与R&S®HZ-15近场探头相结合，为在设计过程中快速定位和分析电路板和模块上的EMI问题提供了一种经济高效、用户友好的解决方案。分析仪的高灵敏度（到3GHz，DANL的典型值<-163 dBm）使其能够测量非常小的辐射。
容易安装
EMI调试只需要很少几个步骤：
- 将合适的近场探头连接到分析仪RF输入端
- 在被测电路板或模块上移动探头
基于先前的场强测量，设计师已经知道了被测电路板或模块的几个临界频率。据此设置R&S®频谱的频率和范围。
迹线计算功能可抑制背景噪声
屏蔽室外部，环境噪声和干扰会影响测量，从而导致错误的测量结果。R&S® Spectrum Rider迹线计算功能可用于抑制环境噪声，即从实际轨迹中减去噪声。
要使用迹线计算功能，必须：
- 根据测试要求设置频率、带宽和电平
- 确保被测设备（DUT）已关闭
- 执行一次包括来自环境辐射的扫描，并将结果存储到R&S® Spectrum Rider迹线内存
- 打开DUT
- 进行第二次扫描，包括DUT和环境的辐射
- 激活迹线计算以消除环境影响
迹线计算功能从最后测量的频谱轨迹中减去内存内容（环境电磁干扰）。
R&S® Spectrum Rider trace迹线计算功能示例
限制线可用于通过/失败指示，并可轻松监控在EMI设计优化后的改进。
R&S® HZ-15 H和E场近场探头
R&S®HZ-15是一套五个易于使用的无源探头，非常适合测量电路板和模块上的高频电磁场以进行EMI调试。磁场探头包括特殊的电屏蔽探针头。各种探针头形状是为近场测量任务而设计的：
- H场探头高达3 GHz（探头1、2、5）
- E场探头（探头3、4）
窄电极探针3可用于追踪宽度小于0.2 mm的单导线。探头4用于总线、大型组件或电源表面上的发射电场检测。
在近场探头和频谱分析仪之间增加R&S®HZ-16前置放大器可提高灵敏度，甚至可以测量非常微弱的高达3 GHz的高频场。 R&S® Spectrum Rider 迹线计算功能与近场探头相结合，非常适合在开发人员的工作台上对DUT的EMI性能进行初步调查。由于实验室不可避免地是一个嘈杂且不断变化的电气环境，因此需要屏蔽室来准确且可重复地确定设备的EMI性能。
