描述
mORL-A1 带 MSUP-300A-PCT-TDR 选项
VIAVI MAP免缠绕插回损测试仪新增功能选项，增强TDR功能。
PCT框架内的增强TDR功能允许生产环境利用OTDR技术对光纤特征（如连接器）进行IL和RL测量，而无需连接到功率计。
新的增强型TDR功能是无源器件测试系统的创新软件插件，利用了VIAVI在创新光学测试和测量设备方面40年的经验。
至关重要的是，增强型TDR允许在DUT发生故障的IL/RL测量后进行故障排除。操作员现在可以在同一软件上快速轻松地切换到ETDR模式，而无需移动任何设备，并知道DUT内故障的位置。
此外，当光纤或电缆打算在没有连接器的情况下运输时，测量光学连接可能会很麻烦。然而，IL/RL仪表需要功率计连接来测量DUT的插入损耗，并且无法解决单个光纤事件。
VIAVI释放了一种新的测试协同效应，将OTDR的机会与增强TDR功能中PCT架构的生产可靠性结合在一起。这允许生产环境使用OTDR，通过数据处理和操作手段来提高操作者的效率和通过率。增强TDR功能在您的光学生产环境中达到两全其美。
技术参数
| 参数 | 单模 | 多模 | ||
| 波长 | 1310nm 和1550nm，1490nm和1625nm 为选项 | 850nm 和1300nm | ||
| 最小被测件（DUT）长度1 | 3 m | |||
| OTDR最大范围 | 10 km | |||
| 回损精度2 | 30 to 70 dB | ±1.0 dB | 15 to 20 dB | ±1.8 dB |
| 70 to 75 dB | ±1.7 dB | 20 to 60 dB | ±1.3 dB | |
| 75 to 80 dB | ±3.0 dB | |||
| 回损重复性2 | 30 to 65 dB | ±0.1 dB | 15 to 60 dB | ±0.2 dB |
| 65 to 70 dB | ±0.2 dB | |||
| 70 to 75 dB | ±0.4 dB | 60 to 70 dB | ±0.5 dB | |
| 75 to 80 dB | ±1.5 dB | |||
| 测量时间3 | 2 s | |||
| 可用脉冲宽度 | 3 ns, 30 ns | 3 ns | ||
| 空间分辨率 | 4 cm @ 3 ns, 8 cm @ 30 ns | |||
| 插损IL测量精度4 | ± 0.05 dB | ± 0.15 dB | ||
| 插损IL测量重复性4 | ± 0.025 dB | ± 0.05 dB | ||
| 插损IL测量动态范围4 | 10 dB | |||
| 软件界面 | 板载、无需计算机的用户界面或远程SCPI命令 | |||
| 校准周期 | 1 年 | |||
| 预热时间 | 20 分钟 | |||
| 工作温度，湿度 | 25 ±5 °C ，无冷凝 | |||
| 储存温度 | – 30 to + 60°C | |||
注意：
1 在3ns脉冲宽度下输入连接器IL测量的最小DUT长度。
2 在5秒平均时间和200米范围内提供规格，使用10次测量和3米接插线的稳定连接。
3 每信道每波长，额外的平均时间为5、10、30和60秒。
4 测量不确定度为总扩展不确定度（2σ），有效测试引线和DUT连接在脉冲宽度为30ns，平均时间为5秒。
订货信息
License
| 部件号 | 描述 |
| MSUP-300A-PCT-TDR | MAP-300增强PCT TDR License |
