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FLS 106 IC set 四轴定位IC扫描仪
FLS 106 IC set 四轴定位IC扫描仪

FLS 106 IC set 四轴定位IC扫描仪

FLS 106型IC扫描仪可以在电子组件的集成电路上方，借助ICR-近场微探头对频率在6GHz以内的高频磁场或电场进行高分辨率（50-100µm）测量。

分类：

描述

FLS 106型IC扫描仪可以在电子组件的集成电路上方，借助ICR-近场微探头对频率在6GHz以内的高频磁场或电场进行高分辨率（50-100µm）测量。 使用近场探头和带有SH 01探头支架的场源使用ICR-探头（旋转单元） 工作状态下对集成电路的采样，四轴定位系统可提供一个扫描台 GND/CB 和附件，进行测试时用到的其他附件也包含在供货范围内。

配置附件

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  •         1x FLS 106 IC
  •         1x CS-Scanner, ChipScan-Scanner 软件
  •         1x GND 25, 接地板
  •         1x DM-CAM
  •         1x Rotary unit
  •         1x DM-CAM holder.3, SMA
  •         1x FLS 106 IC acc
  •         ICR Probe
  •         ICI 01 L-EFT set, 集成电路Langer电磁脉冲耦合
  •         XF Product family, XF-近场探头组（30MHz-6GHz）
  •         SX1 set, 近场探头组（1GHz-10GHz）
  •         PA 306 SMA, 前置放大器 (100 kHz-6 GHz)
  •         SH 01
  •         UH DUT set

简要规格

电源电压 110 V / 230 V
接口 USB
x,y,z 轴
过程路径Max (400 x 600 x 125) mm α-Rotation ±180°
过程路径Min (20 x 20 x 20) µm α-Rotation 1°
移动速度 (20 x 25 x 10) mm/s α-Rotation 90°/s
重量 75 kg
尺寸 (L x W x H) (1030 x 775 x 900) mm

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